Qualitest X射線熒光光譜儀

專門從事礦物元素和品位測(cè)試
QualiX-M1采礦分析儀是專門為地質(zhì)和采礦行業(yè)設(shè)計(jì)的
該儀器具有精度高，測(cè)試速度快，操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)。
多種測(cè)試模式，包括合金分析，土壤分析，貴重分析，RoHS分析
測(cè)試樣品包括礦物，礦渣，巖石等。
測(cè)試樣品可以是固體，液體和粉末
產(chǎn)品參數(shù)
消耗功率：200W
輸入電源電壓：AC 110V / 220V
環(huán)境溫度：15°C-30°C
環(huán)境濕度：35％-70％
樣品室容積：320mm x 100mm
外形尺寸：660mmx510mmx350mm
重量：65KG
產(chǎn)品配置
高效超薄窗口X射線燈管
高性能電子冷卻UHRD檢測(cè)器
S100探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)SNE
鹵素測(cè)試配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高SNR電子電路單元
內(nèi)置高分辨率CCD
自動(dòng)準(zhǔn)直器和濾光片開關(guān)
自動(dòng)光譜穩(wěn)定器
三重安全保護(hù)
獨(dú)立矩陣效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼支撐結(jié)構(gòu)
90mm x 70mm液晶屏
真空泵
準(zhǔn)直器和過(guò)濾器
CMOS高清攝像頭
 
技術(shù)指標(biāo)：
可測(cè)量元素：Na到U
元素含量：1 ppm-99.99％
同步分析能力：同時(shí)分析24個(gè)元素。
鍍層厚度：每層*多可分析0.005µm；電鍍3層以上。
分析穩(wěn)定性：0.05％
測(cè)量時(shí)間：60s-200s
能量分辨率：（140±5）eV
燈管電壓：5KV-50KV
燈管電流：50µA-1000µA
 
儀器優(yōu)勢(shì)：
專為礦物檢測(cè)而開發(fā)的高效超薄窗口X射線燈管達(dá)到*水平
硅漂移檢測(cè)器（SDD），具有出色的能量線性，能量分辨率，能譜特性和更高的峰基比
產(chǎn)品：信號(hào)噪聲增強(qiáng)器（SNE）將信號(hào)處理能力提高了25倍。
使用低能量的X射線，當(dāng)激發(fā)諸如Cl和Br的輕元素時(shí)，可以獲得良好的結(jié)果。
智能抽真空系統(tǒng)；屏蔽空氣影響并擴(kuò)大測(cè)試范圍。
自動(dòng)頻譜穩(wěn)定器可確保儀器正常工作。
頻譜展開技術(shù)分解頻譜峰值。確保Cl，Br和其他輕元素測(cè)試具有相同的分析準(zhǔn)確性。
具有多重線性回歸，減少了元素間的吸收和增強(qiáng)作用
2L真空泵
LCD使儀器的重要參數(shù)（管電壓，管電流，真空度）清晰可見(jiàn)。