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SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統

參考價	￥ 400000
訂貨量	≥1套

具體成交價以合同協議為準

公司名稱北京華測試驗儀器有限公司
品牌華測
型號Huace
所在地北京市
廠商性質生產廠家
更新時間2026/3/11 10:51:03
訪問次數198

產品標簽:

絕緣電阻劣化評估系統離子遷移特性測試系統材料絕緣性能劣化分析系統絕緣電阻老化測試系統離子遷移測試儀

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公司介紹主營產品

北京華測試驗儀器有限公司( 簡稱: 華測儀器) 為高新技術企業，專注于絕緣材料與先進功能新材料電性能檢測以及材料電學測控設備的研發、生產、銷售和服務。
公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個電學試驗室；涉及材料測試儀器、器件的放大、調理、采集、控制；傳感器性能綜合評價等相關儀器。
產品系列：功能材料電學綜合測試系統、絕緣診斷測試系統、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統、壓電傳感器測控系統。

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先進功能材料電學綜合測試系統、絕緣診斷測試系統、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統、壓電傳感器測控系統。

產品簡介在線詢價

華測儀器SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統是一種信賴性試驗設備，可評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。

SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統產品信息

SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統由華測儀器生產，離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。

產品參數

技術指標

測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測試通道:128通道（可定制至高960通道）

測試時長:可連續運行1500小時

測試溫度:85℃（可定制）

測試濕度:85%（可定制）

測量范圍:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

應用領域

電子材料：印BGA、CSP等節距IC封裝件