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QQZ—II型漆膜圓柱彎曲測試儀 詳細摘要: 依據GB/T6742-86、ISO1519-1982
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QTZ型 漆膜圓錐彎曲試驗儀 詳細摘要: 依據GB/T11185-89、ISO6860-1984設計制造
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QTX型 漆膜彈性試驗儀 詳細摘要: 依據GB/T1731-93設計制造
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漆膜附著力試驗儀QFZ 詳細摘要: 漆膜附著力試驗儀QFZ用途:通過劃圓軌跡法測定漆膜附著力性能試驗技術特征:以圓滾線劃痕范圍內的漆膜完整程度
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QCJ型 漆膜沖擊器 詳細摘要: 依據GB/T1732-93設計制造
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QGS型干燥時間試驗器 詳細摘要: 依據GB/T1728-89設計制造
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QGZ型 自動漆膜干燥時間 詳細摘要: 通過劃針在涂層上的勻速移動,在涂膜上作出軌跡壓痕由寬漸窄由深漸淺的變化得出各段干燥時間,以小時表示
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QXP型 刮板細度計 詳細摘要: 依據GB/T6753.1-86、ISO1524-1983設計制造
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QXD型 刮板細度計 詳細摘要: 依據GB/T1724-89設計制造
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TM660 詳細摘要: 一、概述TM-660測量范圍:-50~999℃,物距比:12:1,在您無操作后6秒自動關機,方便省電
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TM672 詳細摘要: 一、概述TM-672紅外測溫儀測溫范圍:-32~1300℃,距離系數:30:1近20年來,非接觸紅外測溫儀在技術上得到迅速發展,性能不斷*,功能不斷增強,品種不...
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TM643 詳細摘要: 一、概述經濟型TM643測量范圍:-32~760℃,物距比:12:1,為目前市面上底的高品質低端紅外測溫儀
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測厚探傷探頭線 詳細摘要: 各型型號尺寸測厚探頭/探傷探頭,各種探頭線
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CSK-IVA標準試塊 詳細摘要: CSK-IVA標準試塊/T1型試塊/T2型試塊/T3型試塊a、b/鋁及鋁合金對比試塊/靈敏度校準試塊/橫向缺陷試塊/縱向缺陷試塊/CSK-IIAm試塊中華人民共...
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標準試塊CSK-IA 詳細摘要: CSK-IA標準試塊/CBI標準試塊/CBII標準試塊/CSI標準試塊是中華人民共和國行業標準試塊JB4730-2005CBI標準試塊、CBII標準試塊適用于板...
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反差增強劑 詳細摘要: 在表面粗糙的焊接件或鑄鋼件磁粉探傷時,由于工作表面凹凸不平,或者由于磁痕顏色與工件表面顏色對比度很低時,會使檢出的缺陷難于發現,容易造成漏檢
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黑光燈泡,紫外線燈泡 詳細摘要: 濟寧聯永超聲電子有限公司生產的無損檢測儀器:便攜式里氏硬度計,超聲波探傷儀,超聲波測厚儀,電火花檢測儀,涂層測厚儀,鍍層測厚儀,渦流測厚儀,磁粉探傷機,工業觀片...
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E123粗糙度儀 詳細摘要: E123噴丸粗糙度測量儀使用簡單,用于測量噴拋處理表面的峰頂-谷底的高度的一系列測量值的平均值便是表面的粗糙度
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LM-1000粗糙度儀 詳細摘要: 一.概述LM-1000型粗糙度儀是聯永公司推出的一款高精密表面粗糙度儀(砂目儀、錨紋儀、錨紋深度儀)
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荷蘭試塊/牛角試塊 詳細摘要: 國際標準試塊ISO2400-1972E荷蘭試塊V-1(IIW1):IIW試塊(V-1試塊)也稱荷蘭試塊.是由國際焊接學會(IIW)通過,國際標準化組織(ISO)...
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